本產品為光學儀器(含X射線)的檢測配置高低溫原位樣品環境的專用測試臺,通過精準控制樣品臺溫度實現樣品快速加熱或冷卻,觀測和記錄材料隨溫度變化過程中產生的結構和形貌變化,結合光學儀器的檢測手段采集應變數據做定量分析。
本產品為光學儀器(含X射線)的檢測配置高低溫原位樣品環境的專用測試臺,通過精準控制樣品臺溫度實現樣品快速加熱或冷卻,觀測和記錄材料隨溫度變化過程中產生的結構和形貌變化,結合光學儀器的檢測手段采集應變數據做定量分析。
最高溫度 | 600℃ |
最低溫度 | -195℃ |
最大升溫速率 | 30℃/min(標準)/ 180℃/min(全量程) |
最大降溫速率 | 30℃/min |
溫度穩定性 | <0.1℃ |
溫度分辨率 | 0.1℃ |
溫控方式 | PID動態調節 |
溫度傳感器 | PT100 |
本產品適用于材料學、生物化學、冶金學、有機化學、高分子及納米材料學針對材料特性的研究,與各種光學測試儀器或電子顯微鏡聯合使用,用戶可以自由設定溫度的階段變化,實現快速的加熱或冷卻樣品,在微觀上觀測材料的形貌變化,結合光學儀器的測試數據可對內部結構變化做定量分析。