SmartXAFS X 射線吸收精細結構譜儀，采用固定X射線源的獨特設計，移動晶體和探測器獲取數據。XAFS對中心吸收原子的局域結構（尤其是在0.1nm范圍內）及其化學環境十分敏感，可以在原子尺度上給出某一特征原子周圍幾個近鄰配位殼層的結構信息。
SmartXAFS X 射線吸收精細結構譜儀，采用固定X射線源的獨特設計，移動晶體和探測器獲取數據。XAFS對中心吸收原子的局域結構（尤其是在0.1nm范圍內）及其化學環境十分敏感，可以在原子尺度上給出某一特征原子周圍幾個近鄰配位殼層的結構信息。
| XAFS能量范圍 | 4.5 - 18 keV（Mo）；4.5 - 20 keV（Ag）；4.5 - 22 keV（Pd）；4.5 - 50 keV（液態金屬靶） |
能量分辨率 | ≤ 0.5 - 1.5 eV |
XAFS模式重復 | ≤30 meV 能量尺度漂移 |
光源系統 | 支持各種不同靶材 高壓最大可達60 kV，電流最大40 mA；功率≥2.2 kW |
單色器 | 高純Si/Ge晶體 |
布拉格角度范圍 | 55 - 85° |
| 探測器 | 高精度SDD 硅漂移探測器 |
樣品臺 | 10位樣品輪批量自動測試 |
環境分析、能源材料、生物科學、材料科學、催化
